[ヒト神経細胞におけるLINE-1プロモータ・メチル化に対する超低周波磁界ばく露と酸化ストレスの組み合わせによる 影響の評価] med./bio.

Assessing the combined effect of extremely low-frequency magnetic field exposure and oxidative stress on LINE-1 promoter methylation in human neural cells

著者: Giorgi G, Pirazzini C, Bacalini MG, Giuliani C, Garagnani P, Capri M, Bersani F, Del Re B
掲載誌: Radiat Environ Biophys 2017; 56 (2): 193-200
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この研究は、最も多く研究されているエピジェニックな変化の一つであるDNAメチル化を影響指標として、超低周波パルス化磁界（PMF：50Hz、1mT、ばく露時間：24または48時間）の単独ばく露および酸化ストレス（OS）との組み合わせばく露がヒト神経細胞（BE(2)C）に与える影響を調べた。全ゲノムのメチル化レベルを評価するための一般的な手法である、長鎖散在反復配列（LINE-1）の5'非翻訳領域（5'UTR）に存在するCpGs（シトシンとグアニンがホスホジエステル結合した配列）のDNAメチル化レベルを分析した。その結果、PMFまたはOSの単独ばく露では、さまざまなCpGsでのメチル化レベルが微弱に低下および上昇した；PMFとOSの組合せばく露では、さまざまなCpGsでのメチル化レベルが有意に低下した；ただし、これらの変化の大部分は一過性であり、細胞は恒常的なDNAメチル化パターンを維持していることが示唆された､と報告している。

ばく露

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