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14275件の論文が見つかりました。

キーワード: Frequenz, frequency, 頻度、周波数

• 2023, Jamshed MA, Khan WU, Pervaiz H, Imran MA, Ur Rehman M
  [後方散乱対応 NOMA ネットワークのエミッションを意識したリソース最適化] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 213-224, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Qureshi MRA, Alfadhl Y, Chen X, Ur Rehman M
  [数値計算法を用いた年齢依存的なばく露推定] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 77-114, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Qureshi MRA, Alfadhl Y, Chen X
  [より高い周波数での通信システムの数値的ばく露評価] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 49-75, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Jamshed MA, Brown TWC, Héliot F
  [低SARデバイス用のカップリング操作を用いたMIMOアンテナ] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 135-149, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Jamshed MA, Brown TWC, Héliot F
  [低SARモバイル端末用のアンテナ設計] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 115-134, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Alfadhl Y
  [ワイヤレスデバイスから発せられる電磁界へのばく露：メカニズムおよび評価手法] [basics]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 19-47, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2022, Asok AO, Shukoor MA, Dey S
  [マイクロ波画像撮影を用いたメタメリアル対応モノポールアンテナによる乳がんの検出] [temp.]
  2022 IEEE International Conference on Emerging Electronics (ICEE), Bangalore, India. IEEE: 1-4, ISBN 978-1-6654-9186-0
• 2022, Sharma AK, Dubey SK
  [SAR評価のための組織同等液体の実際の世界での保存期間研究] [med./bio.]
  2022 URSI Regional Conference on Radio Science (USRI-RCRS), Indore, India. IEEE: 1-4, ISBN 978-1-6654-5359-2
• 2022, Jain A, Mishra A, Dubey SK
  [比吸収率の評価のための抵抗性プローブの設計および分析] [tech./dosim.]
  2022 URSI Regional Conference on Radio Science (USRI-RCRS), Indore, India. IEEE: 1-4, ISBN 978-1-6654-5359-2
• 2022, Meenu L, Aiswarya S, Menon SK, Menon KU
  [異なる動作シナリオ下の携帯電話からの電磁放射ばく露] [tech./dosim.]
  2022 URSI Regional Conference on Radio Science (USRI-RCRS), Indore, India. IEEE: 1-4, ISBN 978-1-6654-5359-2