EMF exposure study of multilayer human head model at close distance of 28 GHz patch arrays tech./dosim.

[EMF-Expositionsstudie eines mehrlagigen menschlichen Kopfmodells im Nahbereich von 28 GHz-Patch-Arrays]

Von: He W, Xu B, He S, Ying Z
Veröffentlicht in: 2018 International Workshop on Antenna Technology (iWAT), Nanjing, China. IEEE, 2018: 1-3; ISBN 978-1-5386-1852-3
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