Semi-empirical Model of Global Exposure using Stochastic Geometry tech./dosim.

[Semi-empirisches Modell der Gesamt-Exposition unter Verwendung stochastischer Geometrie]

Von: Gontier Q, Petrillo L, Rottenberg F, Horlin F, Wiart J, Oestges C, De Doncker P
Veröffentlicht in: 2021 IEEE International Conference on Communications Workshops (ICC Workshops), Montreal, QC, Canada. IEEE, 2021: 1-5; ISBN 978-1-7281-9442-4
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Exposition