The effect of deep brain structure modeling on transcranial direct current stimulation-induced electric fields: An in-silico study
tech./dosim.
[Die Wirkung der Modellierung der Tiefenhirn-Struktur auf die durch transkranielle Gleichstrom-Stimulation induzierten elektrischen Felder: Eine in silico-Studie]
Von:
Song CB, Lim C, Lee J, Kim D, Seo H
Veröffentlicht in: 2023 45th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Sydney, Australia. IEEE, 2023: 1-4; ISBN 9798350324488
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