Rasterelektronenmikroskopie

Englisch: scanning electron microscopy
Japanisch: 走査電子顕微鏡法

Physik. Abk. REM. Technik zur vergrößernden Darstellung eines Objekts, bei der das Objekt mit einem Elektronenstrahl durch zeilenweise Abtastung untersucht wird. Dies ergibt ein dreidimensionales Bild der Oberfläche mit einer Auflösung von ca 10 nm.

Gehört zu:
Verwandt mit:

Nach Publikationen suchen, in denen dieser Begriff vorkommt