[漏れのある薄い二重層に電界が引き起こす不安定性：独特の形態および微細化への道筋] tech./dosim.

Electric field induced instabilities of thin leaky bilayers: Pathways to unique morphologies and miniaturization

著者: Mondal K, Kumar P, Bandyopadhyay D
掲載誌: J Chem Phys 2013; 138 (2): 024705
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