[多様な装置の中間周波電磁界の現場でのばく露評価] tech./dosim.

In situ exposure assessment of intermediate frequency fields of diverse devices.

掲載誌: Radiat Prot Dosimetry 2015; 164 (3): 252-264

この研究は、さまざまな中間周波数(IF)の発生源からの電界および磁界への現場でのばく露を調査した。対象は、スマートボード(電子黒板)、タッチスクリーン、省エネ電球、蛍光ランプ、ポータブル補聴器、電気メスである。その結果、調査した大半の発生源では、電界が主たる物理量であった;ICNIRPの参考レベルを超過したのは、タッチスクリーン(44kHz: 5cmの距離で最大155.7V/m)、省エネ電球(38-52kHz: 最大117.3V/m)、蛍光ランプ(52kHz: 5cmの距離で最大471V/m)、電気メス(920kHz: 0.5cmの距離で最大792V/m)であった;公衆の参考レベルの遵守距離は、15.3cm(タッチスクリーン)から25cm(蛍光ランプ)の範囲であった、と報告している。

ばく露