[植込み型ペースメーカに対するRFIDおよびNFCリーダの電磁干渉評価のための誘発試験] dev./impl.

Provocative Testing for the Assessment of the Electromagnetic Interference of RFID and NFC Readers on Implantable Pacemaker

掲載誌: IEEE Trans Electromagn Compat 2016; 58 (1): 314-322

この研究は、無線自動認識(RFID)および近傍界通信(NFC)のリーダの模擬装置からのばく露を植込み型ペースメーカ(PMs:n=10)に与え、電磁干渉(EMI)を評価するための誘発試験を行った。模擬装置は、LF(125 kHz)、HFおよびNCF(13.56 MHz)、UHF(900 MHz)の3つのバンド放射する。誘発試験は、電界強度を徐々に商用装置での許容最大値まで増加させる方法で、3つの周波数バンドで実施した。その結果、LF RFIDの場合、商用装置の代表的磁界レベル(100 A/m)において2/10(10台中の2台)、500 A/mにおいて9/10のPMsにEMIが生じた;HF RFIDおよびNFCの場合、商用装置の代表的出力レベル(4 W)において3/10(10台中の2台)、10 Wにおいて7/10のPMsにEMIが生じた;UHF RFIDの場合、2 Wにおいて2/10のPMsにEMIが生じ、20W まで出力を上昇させても他のPMsへの影響は見られ無かった、と報告している。

ばく露