著者:
Aminzadeh R, Thielens A, Gaillot DP, Liinard M, Koni L, Agneessens S, Van Torre P, Van Den Bossche M, Verloock L, Dongus S, Eeftens M, Huss A, Vermeulen R, de Seze R, Cardis E, Rogier H, Röösli M, Martens L, Joseph W
掲載誌: IEEE Sens J 2019; 19 (16): 6927 - 6937
