EMF-Portal | Statistical analysis and surrogate modeling of indoor exposure induced from a WLAN source

Statistical analysis and surrogate modeling of indoor exposure induced from a WLAN source tech./dosim.

著者: Pinto Y, Wiart J

掲載誌: 2017 11th European Conference on Antennas and Propagation (EUCAP), Paris. IEEE, Paris, France, 2017: 806-810; ISBN 978-88-907018-7-0

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