この論文は、電磁過敏症（EHS）の自訴者が経験する症状の由来を説明する仮説の批判的レビューである。EHSの説明仮説は広範囲にわたることから、このレビューでは対象をEHS文献に限定せず、関連するトピックスについての研究全体を包含した。2つの戦略を用いて関連する参考文献を同定した。EHSについては、フランス国立食品環境労働衛生安全庁（ANSES）の2018年の報告書から完全な書誌情報を抽出し、より最近の研究を追加した。関連するトピックスについては、適切なデータベースを検索した。系統的レビューおよび専門家報告書も可能な限り対象とした。その結果、文献からは主に以下の3つの説明仮説が認められた：(1) 電磁的仮説、即ちEHSは電磁界ばく露が原因であるとするもの、(2) 認知的仮説、即ちEHSは電磁界が有害であるという間違った信念が認知上の電磁界曝露へのノセボ反応を促進することで生じるとするもの、(3) 帰属仮説、即ちEHSは既に存在する症状に対抗する戦略であると考えるもの。これらの仮説の長所と短所の両方を考慮して順次評価し、その理論的、実験的および生態学的価値を比較したところ、いずれの仮説も完全に満足させられるものではない、と著者は結論付けている。また著者は、EHSのより良い理解のための今後の研究の方向性について提言している。
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