文献検索結果

7363件の論文が見つかりました。

キーワード: 信号対雑音比, Signal-Rausch-Verhältnis, Störabstand, S/N, SNR, "signal-to-noise ratio"

• 2022, Nataraja Moorthy T, Shari N, Rajesh Kumar N
  [水田での農園労働者の死亡：稀少不審死調査報告書] [elec. inj.]
  J Krishna Inst Med Sci Univ 11 (3): 90-94
• 2022, Novotny DR, Christensen N, Kothari S, Langiewicz L
  [非静止衛星と通信する電気的に大型の平面フェイズドアレイの入射電力密度] [tech./dosim.]
  2022 IEEE International Symposium on Product Compliance Engineering (ISPCE), San Diego, CA, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-9789-3
• 2022, Pinto BS, Cavendish BA, da Silva PHR, Suen PJC, Marinho KAP, Valiengo LDCL, Vanderhasselt MA, Brunoni AR, Razza LB
  [強迫性障害の症状における経頭蓋直流刺激の影響：メタ分析および統合電界モデリング分析] [review]
  Biomedicines 11 (1): 80
• 2022, Ersoy N, Acikgoz B, Aksu I, Kiray A, Bagriyanik HA, Kiray M
  [ラットの精巣の発達に対する出生前および出生後の50 Hz、3 mT電磁界へのばく露の影響] [med./bio.]
  Medicina 59 (1): 71
• 2022, Lee SW, Kim N, Kwon JH, Choi HD, Lee SB, Kim EJ
  [電磁界のヒトへの健康リスクについての学術論文の分類のための単語の埋め込みの比較研究] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 11th Global Conference on Consumer Electronics (GCCE), Osaka, Japan. IEEE: pp. 391-392; ISBN 978-1-6654-9233-1
• 2022, Wang Y, Xu N, Wang R, Zai W
  [脳卒中後の認知障害に対する非侵襲的脳刺激の効果についての系統的レビューおよびネットワークメタ分析] [review]
  Front Neurosci 16: 1082383
• 2022, Boukabou I, Foust L, Benouadah S, Rupanetti D, Wolf J, Kaabouch N
  [UAS［無人航空システム］送電線検査のための超高圧送電線周辺の電界] [tech./dosim.]
  2022 North American Power Symposium (NAPS), Salt Lake City, UT, USA. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-9922-4
• 2022, Ma F, Liu X, Ansari N
  [IoTにおける遠方界ワイヤレス電力伝送についての電磁放射安全性] [tech./dosim.]
  GLOBECOM 2022 - 2022 IEEE Global Communications Conference, Rio de Janeiro, Brazil. IEEE: pp. 4995-5000; ISBN 978-1-6654-3541-3
• 2022, Shimizu Y, Ishii N, Nagaoka T
  [4 GHz以上の周波数での2つのアンテナ法による液体誘電特性測定の検証] [tech./dosim.]
  2022 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), Yokohama, Japan. IEEE: pp. 133-135; ISBN 978-1-6654-5108-6
• 2022, Miura N, Kodera S, Higashiyama J, Iyama T, Suzuki Y, Hirata A
  [6 GHz未満および6 GHz超の複数周波数での頭部のばく露の評価] [tech./dosim.]
  2022 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), Yokohama, Japan. IEEE: pp. 423-425; ISBN 978-1-6654-5108-6