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9948件の論文が見つかりました。

キーワード: Hochfrequenz, HF, "radio frequency", RF, 無線周波

• 2023
  [Report of the Committee on Education, Research and Technology Assessment (18th Committee) pursuant to § 56a of the Rules of Procedure - Technology Assessment (TA): Possible health effects of different frequency ranges of electromagnetic fields (HF-EMF)] [info]
  German Bundestag (Parliament of the Federal Republic of Germany), Drucksache 20/5646: 1-312
• 2023
  IEEE Standard for Electromagnetic Energy Safety Programs, 0 Hz to 300 GHz [guideline]
  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), IEEE Std C95.7-2022: 1-139, ISBN 978-1-5044-9390-1
• 2023
  [IEC/IEEE国際規格草案‐ハンドヘルドおよびボディマウント式のワイヤレス通信デバイスからの高周波電磁界へのヒトのばく露の比吸収率の評価のための測定手順‐その3：ベクトル測定に基づくシステム（300 MHzから6 GHzの周波数範囲）] [temp.]
  International Electrotechnical Commission (IEC), Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), IEEE/IEC P62209-3: 1-209
• 2023, Deng ZD, Robins PL, Dannhauer M, Haugen LM, Port JD, Croarkin PE
  [反復的経頭蓋磁気刺激を受けるうつ病の若年者における背外側前頭前皮質を標的とするコイル配置アプローチの比較：電界モデリング研究] [tech./dosim.]
  medRxiv: the Preprint Server for Health Sciences (medRxiv), 2023.02.06.23285526: 1-18
• 2023, Kakaraparty K, Mahbub I
  [後方散乱RFIDアプリケーション用の蛇行スロットアンテナの設計およびSAR分析] [tech./dosim.]
  2023 United States National Committee of URSI National Radio Science Meeting (USNC-URSI NRSM), Boulder, CO, USA. IEEE: 141-142, ISBN 978-1-6654-7642-3
• 2023, Nandikanti A, Zheng J, Hu W, Chen J
  [創外固定システムにおける高周波誘導加熱の低減のための強磁性体の利用の適用可能性についての研究] [dev./impl.]
  2023 United States National Committee of URSI National Radio Science Meeting (USNC-URSI NRSM), Boulder, CO, USA. IEEE: 81-82, ISBN 978-1-6654-7642-3
• 2023, Jamshed MA, Khan WU, Pervaiz H, Imran MA, Ur Rehman M
  [後方散乱対応 NOMA ネットワークのエミッションを意識したリソース最適化] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 213-224, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Qureshi MRA, Alfadhl Y, Chen X
  [より高い周波数での通信システムの数値的ばく露評価] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 49-75, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Jamshed MA, Héliot F, Brown TWC
  [低電磁界NOMAシステム用の教師なし学習に基づくリソース配分] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 187-211, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Jamshed MA, Brown TWC, Héliot F
  [低SARモバイル端末用のアンテナ設計] [tech./dosim.]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 115-134, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2023, Alfadhl Y
  [ワイヤレスデバイスから発せられる電磁界へのばく露：メカニズムおよび評価手法] [basics]
  Low Electromagnetic Field Exposure Wireless Devices: Fundamentals and Recent Advances. Ur Rehman M, Jamshed MA (eds.): Wiley-IEEE Press: 19-47, ISBN 978-1-119-90916-3
• 2022, Grünwald R, Revermann C, Riousset P
  [Possible health impacts due to different frequency ranges of electromagnetic fields (HF-EMF). Final report on the TA project] [info]
  Büro für Technikfolgen-Abschätzung beim Deutschen Bundestag (TAB), Arbeitsbericht Nr. 196: 1-432
• 2022, Ben Saada A, Ben Mbarek S, Choubani F
  [5G FR1周波数に対する無限円筒モデルを用いた遠方界への全身ばく露] [tech./dosim.]
  Advanced Information Networking and Applications. Lecture Notes in Networks and Systems 449巻. Barolli L, Hussain F, Enokido T (eds.): Springer, Cham: 471-478, ISBN 978-3-030-99583-6
• 2022, Petroulakis N, Chatziadam P, Mattsson MO, Simko M, Theodorou V, Yiorkas AM, Gavrielides A, Miaoudakis A, Scarfi MR, Zeni O
  [次世代高周波電磁界ばく露および健康データへのアクセスのためのNetGEMイノベーションおよび知識のハブ（NIKH）のデザイン] [basics]
  2022 IEEE Conference on Standards for Communications and Networking (CSCN), Thessaloniki, Greece. IEEE: 42-47, ISBN 978-1-6654-7622-5
• 2022, Shabeeb Ahamed KP, Arunachalam K
  [同軸ワイヤアンテナを用いたハイパーサーミア中の局所的な電力伝送のための低プロファイルのフェライトスリーブチョーク] [tech./dosim.]
  2022 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), Bangalore, India. IEEE: 449-453, ISBN 978-1-6654-5204-5
• 2022, Keshwani VR, Rathod SS
  [ワイヤレスアプリケーション用の低SARのデュアルバンドEBG［電磁バンドギャップ］] [tech./dosim.]
  2022 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), Bangalore, India. IEEE: 1484-1489, ISBN 978-1-6654-5204-5
• 2022, Khan A, Singh AK
  [ハイパーサーミアアプリケーション用のISMバンドにおける五角形マイクロストリップパッチアンテナ] [tech./dosim.]
  2022 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), Bangalore, India. IEEE: 460-464, ISBN 978-1-6654-5204-5
• 2022, Li J, Lu M
  [地下鉄のプラットフォーム上の異なる位置での乗客の電磁ばく露の比較] [tech./dosim.]
  EMIE 2022; The 2nd International Conference on Electronic Materials and Information Engineering, Hangzhou, China. VDE: 1-6, ISBN 978-3-8007-5961-3
• 2022, Asok AO, Vidhya JS, Babu FB, Dey S, Kunju N
  [乳がん検出用のメタマテリアルベースのモノポールアンテナ] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 19th India Council International Conference (INDICON), Kochi, India. IEEE: 1-4, ISBN 978-1-6654-5272-4
• 2022, Annalakshmi N, Umarani S
  [5Gワイヤレスネットワークの負のインパクト：ヒトの健康に対する高周波電磁界ばく露の分析、計算および緩和] [basics]
  2022 1st International Conference on Computational Science and Technology (ICCST), Chennai, India. IEEE: 701-707, ISBN 978-1-6654-7656-0
• 2022, Jeladze V, Shoshiashvili L, Partsvania B
  [ミツバチに対する5G電磁界のインパクトについての調査] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 2nd Ukrainian Microwave Week (UkrMW), Ukraine. IEEE: 477-481, ISBN 9798350331530
• 2022
  [「第5世代移動通信技術の展開に関連した電磁界への人口集団のばく露とそれに関する健康影響」についてのフランス国立食品環境労働衛生安全庁の2021年4月12日付提言を更新する提言] [guideline]
  French Agency for Food, Environmental and Occupational Health & Safety (ANSES), ANSES Opinion, Request No 2019-SA-0006: 1-25
• 2022
  [Book 8022] [basics]
  Panagopoulos DJ (ed.): CRC Press, Boca Raton: ISBN 978-1-032-06175-7
• 2022, More CS, Markad NT
  [携帯電話タワーの放射の性能分析] [tech./dosim.]
  2022 International Conference on Computing, Communication, and Intelligent Systems (ICCCIS), Greater Noida, India. IEEE: 383-388, ISBN 978-1-6654-6201-3
• 2022, Derat B, Celik M, Wittmann M, El Hajj W, Colombi D
  [放射電磁界測定からの近傍界電力密度の再構築の数値的および実験的検証] [tech./dosim.]
  2022 Antenna Measurement Techniques Association Symposium (AMTA), Denver, CO, USA. IEEE: 1-6, ISBN 978-1-6654-8427-5