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キーワード: Latenzzeit, Induktionszeit, Latenzperiode, Latenz, "induction period", "induction time", "latent period", "response time", latency, 潜伏期, 誘導期, 潜時

• 2021, Gargiulo M, Iodice A, Riccio D, Ruello G
  Electromagnetic Propagation Software Tool for Planning and Analyzing 5G Networks [tech./dosim.]
  2021 IEEE 6th International Forum on Research and Technology for Society and Industry (RTSI), Naples, Italy. IEEE: pp. 424-428; ISBN 978-1-6654-4136-0
• 2021, Faraji N, Salehi I, Alizadeh A, Pourgholaminejad A, Komaki A, Azandaryani MT, Sadeghian R, Golipoor Z
  [成体ラットの学習、記憶、不安およびベータアミロイド沈着に対する異なる値の超低周波電磁界への長期ばく露の影響の比較] [med./bio.]
  Basic Clin Neurosci 12 (6): 849-860
• 2021, Theodorou K, Tyrakis C, Softa V, Kappas C
  [5Gとヒトの健康] [misc.]
  J BUON 26 (5): 1698-1708
• 2021, Hosel K, Tremblay F
  [健康な成人における改変型30 Hz間欠的シータバースト刺激プロトコルに応答した運動誘発電位の促進] [med. app.]
  Brain Sci 11 (12): 1640
• 2021, Nedelcu AM, Marţian A, Popovici EC
  [5Gのミリ波の研究] [basics]
  2021 IEEE International Black Sea Conference on Communications and Networking (BlackSeaCom), Bucharest, Romania. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-3098-2
• 2021, Kojima S, Miyaguchi S, Yokota H, Saito K, Inukai Y, Otsuru N, Onishi H
  [体性感覚刺激に使用される刺激の数またはタイプは皮質脊髄路の興奮性の調節に影響する] [med. app.]
  Brain Sci 11 (11): 1494
• 2021, Shahi A, Shahnazar F, Nematolahi S, Dehghan A, Shojaeifard MB
  [携帯電話妨害装置から発せられる放射へのばく露は空間記憶に影響力を及ぼすか？] [med./bio.]
  Int J Radiat Res 19 (4): 993-1000
• 2021, Ma H, Lin J, He J, Lo DHT, Tsang HWH
  [不眠症の治療のためのTES［経頭蓋電気刺激］とrTMS［反復的経頭蓋磁気刺激］の有効性：無作為化擬似ばく露対照試験のメタ分析およびメタ回帰] [review]
  Front Psychiatry 12: 744475
• 2021, Psenakova Z, Gombarska D, Smetana M, Janovcik M
  [5G［第5世代移動通信］ネットワークへの生物学的構造のばく露のモデリングおよびシミュレーション] [tech./dosim.]
  2021 22nd International Conference on Computational Problems of Electrical Engineering (CPEE), Hrádek u Sušice, Czech Republic. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-8431-9
• 2021, Sârbu A, Miclăuș S, Șorecău E, Bechet P
  [広帯域vs.周波数選択的手法を用いたユーザーのばく露評価へのアプローチ：IEEE 802.11axモバイルデバイス放射界] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Raleigh, NC, USA. IEEE: pp. 243-248; ISBN 978-1-6654-4889-5