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3094件の論文が見つかりました。

キーワード: motorisch, motorial, 運動性の

• 2018, Kirimoto H, Tamaki H, Otsuru N, Yamashiro K, Onishi H, Nojima I, Oliviero A
  [一次運動皮質への経頭蓋静磁界刺激は皮質の侵害受容処理における可塑的変化を生じる] [med. app.]
  Front Hum Neurosci 12: e63
• 2018, Tang AD, Bennett W, Hadrill C, Collins J, Fulopova B, Wills K, Bindoff A, Puri R, Garry MI, Hinder MR, Summers JJ, Rodger J, Canty AJ
  [低強度の反復的経頭蓋磁気刺激は成獣マウスでの熟練した運動学習を調節する] [med. app.]
  Sci Rep 8: 4016
• 2018, Lee SB, Kim HT, Yang HO, Jang W
  [陽極性経頭蓋直流刺激はパーキンソン病のイン・ビボのマウスモデルにおいてオートファジーを調節することでメチル-4-フェニル-1,2,3,6-テトラヒドロピリジン（MPTP）による神経毒性を防止する] [med. app.]
  Sci Rep 8: 15165
• 2018, Zhao Y, Lai JJ, Wu XY, Qu W, Wang MQ, Chen L, Hu N, Wang X, Hou WS
  [感覚運動皮質の興奮性を高めるためのキロヘルツ周波数の交流を用いた神経筋の電気刺激] [med./bio.]
  2018 40th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC), Honolulu, HI, USA. IEEE: pp. 2240-2243; ISBN 978-1-5386-3647-3
• 2018, Gijssels T, Ivry RB, Casasanto D
  [前運動皮質に対するtDCS［経頭蓋直流刺激］は行為動詞の理解を変化させる：抑制性及び興奮性刺激の補完的効果] [med. app.]
  Sci Rep 8: 11452
• 2018, Tse NY, Goldsworthy MR, Ridding MC, Coxon JP, Fitzgerald PB, Fornito A, Rogasch NC
  [間欠的シータバースト刺激の反復ブロック後の可塑性に対する刺激インターバルの影響] [med. app.]
  Sci Rep 8: 8526
• 2018, Vaidya MV, Lazar M, Deniz CM, Haemer GG, Chen G, Bruno M, Sodickson DK, Lattanzi R, Collins CM
  [市販の頭部コイルの撮像領域を拡大する誘電パッドを用いた7 T fMRIでの小脳の活性化の検出の改善] [tech./dosim.]
  J Magn Reson Imaging 48 (2): 431-440
• 2018, Zhang Y, Zheng N, Ma Y, Xie T, Feng X
  [形状記憶ポリマーを用いた末梢神経刺激用の生体模倣3D神経電極] [tech./dosim.]
  2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA. IEEE: 29.3.1-29.3.4; ISBN 978-1-7281-1988-5
• 2018, Salam MA, Wen F, Ismit H, Rahman QM, Hasan S
  [ブルネイ工科大学のキャンパス内での磁界の調査] [tech./dosim.]
  2018 5th International Conference on Electrical and Electronic Engineering (ICEEE), Istanbul, Turkey. IEEE: pp. 293-296; ISBN 978-1-5386-6393-6
• 2018, Piper S, Ball L, Mandziuk M
  [自動車乗員保護に対するICNIRPガイドラインの数値モデリング応用] [tech./dosim.]
  2018 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility, Signal Integrity and Power Integrity (EMC, SI & PI), Long Beach, CA, USA. IEEE: pp. 448-453; ISBN 978-1-5386-6622-7