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キーワード: power, Leistung, 仕事率

• 2022, Fuentes JG, Jaen JJ, Jaen D
  [CeTur、集中した都市部の再活性化のための究極の解決策] [tech./dosim.]
  CIRED Porto Workshop 2022: E-mobility and power distribution systems, Hybrid Conference, Porto, Portugal. IET: pp. 200-203; ISBN 978-1-83953-705-9
• 2022, Ammar AM, Ellafi AY, Zerek AR
  [公衆衛生および航空安全に対する5G技術の影響についての研究] [basics]
  2022 IEEE 2nd International Maghreb Meeting of the Conference on Sciences and Techniques of Automatic Control and Computer Engineering (MI-STA), Sabratha, Libya. IEEE: pp. 458-464; ISBN 978-1-6654-7919-6
• 2022, Atanasov NT, Atanasova GL, Angelova B, Paunov M, Gurmanova M, Kouzmanova M
  [センサーネットワークおよびIoTアプリケーション用のウェアラブルアンテナ：SARおよび生物学的影響の評価] [tech./dosim.]
  Sensors 22 (14): 5139
• 2022, Zeltser Y, Zeltser I, Peretz MM
  [静電容量ベースのワイヤレス電力伝送システムのコンピュータ支援電磁界放射評価ワークフロー] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 23rd Workshop on Control and Modeling for Power Electronics (COMPEL), Tel Aviv, Israel. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-6654-1082-3
• 2022, Ahlers MT, Block CT, Winklhofer M, Greschner M
  [生理学セットアップにおける磁気刺激の統合および評価] [tech./dosim.]
  PLoS One 17 (7): e0271765
• 2022, Yang Y, Hu X, Liu Y, Ouyang B, Zhang J, Jin H, Yu Z, Liu R, Li Z, Jiang L, Lin X, Xu B
  [電磁界を用いた脳腫瘍治療用の植込み型超音波駆動装置] [med./bio.]
  Sci Adv 8 (29): eabm5023
• 2022, Braun P, Rapp J, Hemmert W, Gleich B
  [誘導性末梢神経刺激のコイル効率] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Neural Syst Rehabil Eng 30: 2137-2145
• 2022, Seetharaman R, Tharun M, Gayathri S, Sreeja Mole SS, Anandan K
  [携帯電話によるヒト頭部での比吸収率および熱伝達の分析] [tech./dosim.]
  Mater Today Proc 51: 2365-2374
• 2022, Adda S, Aureli T, Coltellacci S, D’elia S, Franci D, Grillo E, Pasquino N, Pavoncello S, Suman R, Vaccarono M
  [5G MaMIMOシステムによって生成される電磁放射へのばく露を制限するためのパワーロックシステムの特性評価方法] [tech./dosim.]
  2022 IEEE International Workshop on Metrology for Living Environment (MetroLivEn), Cosenza, Italy. IEEE: pp. 258-262; ISBN 978-1-6654-0894-3
• 2022, Bonato M, Dossi L, Fiocchi S, Gallucci S, Benini M, Chiaramello E, Tognola G, Parazzini M
  [5G携帯電話による高周波ばく露レベルの計算評価] [tech./dosim.]
  2022 Microwave Mediterranean Symposium (MMS), Pizzo Calabro, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-6654-7111-4