RF exposure analysis for multiple Wi-Fi devices in enclosed environment. tech./dosim.

[Hochfrequenz-Expositionsanalyse für mehrere Wi-Fi-Anwendungen in geschlossener Umgebung].

Veröffentlicht in: Keine Autoren angegeben, 2013 IEEE Sensors Applications Symposium Proceedings, Galveston, TX. IEEE, 2013: 13430153, ISBN-13 978-1-4673-4636-8, ISBN-10 1467346365

Exposition