RF exposure analysis for multiple Wi-Fi devices in enclosed environment. tech./dosim.

[Hochfrequenz-Expositionsanalyse für mehrere Wi-Fi-Anwendungen in geschlossener Umgebung].

Veröffentlicht in: 2013 IEEE Sensors Applications Symposium Proceedings, Galveston, TX IEEE, 2013: 13430153, ISBN 9781467346368

Exposition