RF exposure analysis for multiple Wi-Fi devices in enclosed environment tech./dosim.

[Hochfrequenz-Expositionsanalyse für mehrere Wi-Fi-Anwendungen in geschlossener Umgebung]

Veröffentlicht in: 2013 IEEE Sensors Applications Symposium Proceedings, Galveston, TX. IEEE, 2013: 13430153, ISBN 978-1-4673-4636-8

Exposition