Time-domain monitoring of EM exposure during medical device testing
tech./dosim.
[Zeitbereich-Analyse von EM-Exposition während des Testens von medizinischen Geräten]
Von:
Attaran A, Handler WB, Menon RS, Chronik BA
Veröffentlicht in: 2017 IEEE 30th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), Windsor, ON, Canada. IEEE, 2017; ISBN 978-1-5090-5539-5
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