Stochastic Dosimetry applied on a low frequency Near-Field Source Scenario. tech./dosim.

[Stochastische Dosimetrie angewandt auf ein niederfrequentes Nahfeld-Quellen-Szenario].

Veröffentlicht in: 2020 IEEE 20th Mediterranean Electrotechnical Conference ( MELECON), Palermo, Italy IEEE, 2020: 429-433, ISBN-13 978-1-7281-5201-1, ISBN-10 1728152011

Exposition