Stochastic Dosimetry applied on a low frequency Near-Field Source Scenario tech./dosim.

[Stochastische Dosimetrie angewandt auf ein niederfrequentes Nahfeld-Quellen-Szenario]

Veröffentlicht in: 2020 IEEE 20th Mediterranean Electrotechnical Conference ( MELECON), Palermo, Italy. IEEE, 2020: 429-433; ISBN 978-1-7281-5201-1

Exposition