A Stochastic Geometry Approach to EMF Exposure Modeling tech./dosim.

[Ein stochastischer Geometrie-Ansatz zur Modellierung der EMF-Exposition]

Von: Gontier Q, Petrillo L, Rottenberg F, Horlin F, Wiart J, Oestges C, De Doncker P
Veröffentlicht in: IEEE Access 2021; 9: 91777-91787
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