[電磁界ばく露のモデリングに対する確率論的幾何学アプローチ] tech./dosim.

A Stochastic Geometry Approach to EMF Exposure Modeling

著者: Gontier Q, Petrillo L, Rottenberg F, Horlin F, Wiart J, Oestges C, De Doncker P

掲載誌: IEEE Access 2021; 9: 91777-91787

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