Physik. Die Anwendung eines speziellen Rastersondenmikroskops, bei dem eine Sonde systematisch die Oberfläche einer Probe in einem bestimmten Raster abtastet. Dies wird zur Abbildung und Vermessung von Material durch Erzeugung einer topographischen Darstellung der untersuchten Probe auf der Nanometer-Skala eingesetzt.
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