原子間力顕微鏡

同義語:
  • 走査型フォース顕微鏡法
英語: atomic force microscopy
ドイツ語: Rasterkraftmikroskopie

物理学。走査型プローブ顕微鏡の一種で、プローブで試料表面をラスタパターンに沿って系統的に走査する。ナノスケールで試料の表面形状マップを作成するもので、材料の画像化および測定に有用な装置である。

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