このレスポンスの著者を含む研究グループは、最近の論文2件（Bioelectromagnetics誌；Nesin et al. [2012] and Nesin and Pakhomov [2012]）において、ナノ秒パルス電界（nsPEF）に反応して電圧感受性ゲートのナトリウム電流（INa）が阻害されることを実験で示した。それに対し、Verkarkらは追試を行い、著者らの研究データには一部アーチファクトが含まれた可能性を指摘した。本レスポンスはこの追試に対するものであり、Verkarkらの指摘に反論、反証を行っている。Verkarkらの指摘の主要点は、非不活性化ゲートの漏れ電流（Ileak）の増加でパッチクランプ法測定に誤差が生じるというものであるが、著者は、Verkarkらの言うような大きなIleakは生じないと述べている。また、細胞をパッチクランプする時間的プロセスについても、Verkarkらは誤解をしており、著者らはVerkarkらのいうアーチファクトを除外するために十分に適切な方法をとったと主張している。
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