EMF-Portal | 文献検索結果

2008, Kaloudova Y, Rihova H, Brychta P, Suchanek I, Kucera J, Mensik I, Krupicova H, Lipovy B

[詳細] [手足切断に至る感電傷：症例報告] [elec. inj.]

Acta Chir Plast 50 (1): 11-15

2008, Lopez-Martin F, Bregains JC, Jorge-Barreiro FJ, Sebastian-Franco JL, Moreno-Piquero E, Ares-Pena FJ

[900MHzのGSM定在波の小動物での吸収電力の測定のための実験装置：Picrotoxin処理されたラットへの適用例] [tech./dosim.]

Prog Electromagn Res 87: 149-165

2008, Cheng HX, Xu XD, Zhang RQ, Luan RH, Guo WY, Wang HC, Yu ZT, Zhou L

[ラパマイシン介入下における内皮前駆細胞の増殖および遊走に対する一定磁界の影響：ラット実験] [foreign-language]

Zhonghua Yi Xue Za Zhi 88 (38): 2719-2721

2008, Yao C, Mi Y, Hu X, Li C, Sun C, Tang J, Wu X

[ナノ秒パルス電界によりSKOV3がん細胞に誘導されたアポトーシスに関する実験とメカニズム研究] [med./bio.]

2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 1044-1047; ISBN 978-1-4244-1814-5

2008, Yao C, Hu X, Li C, Mi Y, Sun C

[等価回路モデルに基づく細胞膜電位の時間-周波数特性の研究] [tech./dosim.]

2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 1032-1035; ISBN 978-1-4244-1814-5

2008, Xu C, Zhao MX, Poo MM, Zhang XH

[詳細] [GABA（B）受容体の活性化は発達中のGABA作動性シナプスの周波数依存的可塑性を媒介する] [med./bio.]

Nat Neurosci 11 (12): 1410-1418

2008, Silva S, Basser PJ, Miranda PC

[皮質溝の有限要素モデルを用いた経頭蓋磁気刺激によるニューロン興奮のメカニズムと部位の解明] [tech./dosim.]

Clin Neurophysiol 119 (10): 2405-2413

2008, Zhang SZ, Yao GD, Lu DQ, Chiang H, Xu ZP

[ラットニューロンの遺伝子発現に対する1.8GHz無線周波電磁界の影響] [foreign-language]

Zhonghua Lao Dong Wei Sheng Zhi Ye Bing Za Zhi 26 (8): 449-452

2008, Pirogova E, Vojisavljevic V, Cosic I

[詳細] [酵素反応速度に対する500MHz-900MHzマイクロ波放射の非熱的影響] [med./bio.]

2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 1052-1055; ISBN 978-1-4244-1814-5

2008, Perentos N, Croft RJ, McKenzie RJ, Cvetkovic D, Cosic I

[詳細] [ヒトの安静時脳電図のアルファ波に対するGSMを模擬したELF放射の影響] [med./bio.]

2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 5680-5683; ISBN 978-1-4244-1814-5