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キーワード: Herz, Cor, heart, 心臓

• 2022, Zilli Vieira CL, Link MS, Garshick E, Peralta AA, Luttmann-Gibson H, Laden F, Liu M, Gold DR, Koutrakis P
  [太陽および地磁気の活動は心房細動に対する大気汚染物質の影響を強める] [epidem.]
  Europace 24 (5): 713-720
• 2022, Nof E, Peichl P, Stojadinovic P, Arceluz M, Maury P, Katz M, Tedrow UB, Singh RM, Narui R, John RM, Stevenson WG, Beinart R, Grupper A, Sternik L, Lavee J, Sacher F, Kautzner J, Sabbag A
  [HeartMate 3：心室性頻脈アブレーションにおける新たな課題] [dev./impl.]
  Europace 24 (4): 598-605
• 2022, Lacour P, Dang PL, Heinzel FR, Parwani AS, Bähr F, Kucher A, Hohendanner F, Niendorf T, Rahimi F, Saha N, Han H, Rubarth K, Sherif M, Boldt LH, Pieske B, Blaschke F
  [磁石を含む電話と心血管植込み型電子機器との磁界による干渉‐安全のために裏返す？] [dev./impl.]
  Heart Rhythm 19 (3): 372-380
• 2022, Hassanzadeh-Taheri M, Khalili MA, Hosseininejad Mohebati A, Zardast M, Hosseini M, Palmerini MG, Doostabadi MR
  [正常運動精子における精子の生物学的特徴に対する携帯電話放射の悪影響] [med./bio.]
  Andrologia 54 (1): e14257
• 2022, Takakura M, Fujii T, Suzuki S, Nishiwaki K
  [ベッドサイドでの抹消挿入中心静脈カテーテル「Sherlock 3CG」の挿入時の磁気ナビゲーションによる補助人工心臓の干渉] [dev./impl.]
  J Artif Organs 25 (2): 105-109
• 2022, Davids M, Guerin B, Wald LL
  [末梢神経刺激の迅速な特性評価のためのホイヘンス表面アプローチ] [tech./dosim.]
  Magn Reson Med 87 (1): 377-393
• 2022, Crewther BT, Kasprzycka W, Cook CJ, Rola R
  [健康な成人の急性ホルモン動態および感情状態に対するDLPFC［背外側前頭前皮質］および運動皮質に対する単回のHF-rTMS［高頻度反復的経頭蓋磁気刺激］セッションの効果：擬似ばく露対照パイロット研究] [med. app.]
  Neurol Sci 43 (1): 651-659
• 2022, Pall ML
  [ミリ波およびマイクロ波周波数放射は深部浸透作用を生じる：生物学および物理学] [review]
  Rev Environ Health 37 (2): 247-258
• 2022, Noda Y, Knyahnytska Y, Zomorrodi R, Downar J, Rajji TK, Daskalakis ZJ, Blumberger DM
  [迷走神経を介した心拍変動は磁気発作治療後の治療抵抗性うつ病患者の実行機能の変化に関連している] [med. app.]
  Neuromodulation 25 (8): 1378-1386
• 2021, Sanpitak P, Bhusal B, Nguyen BT, Vu J, Chow K, Bi X, Golestanirad L
  On the accuracy of Tier 4 simulations to predict RF heating of wire implants during magnetic resonance imaging at 1.5 T [dev./impl.]
  2021 43rd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Mexico. IEEE: pp. 4982-4985; ISBN 978-1-7281-1180-3