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キーワード: brain, Encephalon, Gehirn, Hirn

• 2023, Thakkar B, Peterson CL, Acevedo EO
  [長時間の連続シータバースト刺激は神経因性疼痛患者の皮質脊髄運動の興奮性と皮質内抑制を増加させる：探索的単盲検無作為化対照試験] [med. app.]
  Neurophysiol Clin 53 (4): 102894
• 2023, Becker CR, Milad MR
  [恐怖消失とその基礎をなす神経回路の神経調節に対する現代的アプローチ] [basics]
  Milad MR, Norrholm SD (eds.): Fear Extinction. Current Topics in Behavioral Neurosciences, 64巻; Springer, Springer, Cham; 353–387; ISBN 978-3-031-43004-6
• 2023, Yaghmazadeh O, Schoenhardt S, Sarabandi A, Sabet A, Sabet K, Safari F, Alon L, Buzsáki G
  [マウス脳における高周波電界のイン・ビボ測定] [tech./dosim.]
  Biosens Bioelectron X 14: 100328
• 2023, Wartman WA, Weise K, Rachh M, Morales L, Deng ZD, Nummenmaa A, Makaroff SN
  [境界要素に対する適応型Hリファインメント法準静的電磁モデリングのための高速多重極法] [tech./dosim.]
  bioRxiv: the Preprint Server for Biology (bioRxiv), 2023.08.11.552996
• 2023, Cordelli E, Ardoino L, Benassi B, Consales C, Eleuteri P, Marino C, Sciortino M, Villani P, Brinkworth MH, Chen G, McNamee JP, Wood AW, Belackova L, Verbeek J, Pacchierotti F
  [妊娠および出生アウトカムに対する高周波電磁界ばく露の影響：ヒト以外の哺乳類についての実験研究の系統的レビュー] [review]
  Environ Int 180: 108178
• 2023, Solomon EA, Wang JB, Oya H, Howard MA, Trapp NT, Uitermarkt BD, Boes AD, Keller CJ
  [経頭蓋磁気刺激はヒトの皮質および皮質下の部位にわたって標的依存の頭蓋内リズムを惹起する] [med. app.]
  bioRxiv: the Preprint Server for Biology (bioRxiv), 2023.08.09.552524
• 2023, Chung YC, Shemmell J, Kumala C, Soedirdjo SDH, Dhaher YY
  [経脊髄磁気刺激の遠隔効果を伝達する脊髄路の同定] [med./bio.]
  J Neurophysiol 130 (4): 883-894
• 2023, Popova KI, Lukyanov NO, Glybovski SB, Solomakha GA
  [カバレッジが改善されたC型ダイポールアンテナを用いたヒトの脳画像撮影のための8チャネルアレイの数値シミュレーション] [tech./dosim.]
  2023 IEEE 24th International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM), Novosibirsk, Russian Federation. IEEE: pp. 1380-1383; ISBN 9798350310443
• 2023, Shin H, Jeong H, Ryu W, Lee G, Lee J, Kim D, Song IU, Chung YA, Lee S
  [うつ病治療におけるロボティクス経頭蓋磁気刺激：パイロット研究] [tech./dosim.]
  Sci Rep 13: 14074
• 2023, Cerna M, Drizdal T
  [脳腫瘍のハイパーサーミア療法に焦点を当てた時間逆転の実施] [tech./dosim.]
  2023 Photonics & Electromagnetics Research Symposium (PIERS), Prague, Czech Republic. IEEE: pp. 1267-1274; ISBN 9798350312850