Die folgenden Begriffe wurden einbezogen:
"statisches elektrisches Feld", "static electric field", 静電界
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2020 IEEE REGION 10 CONFERENCE (TENCON), Osaka, Japan. IEEE: 128-133; ISBN 978-1-7281-8456-2
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2020,
Khubieva VM, Kugusheva NN, Semenova MN
2020 International Multi-Conference on Industrial Engineering and Modern Technologies (FarEastCon), Vladivostok, Russia. IEEE: 1-6; ISBN 978-1-7281-6952-1
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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),
IEEE Std C95.1-2019/Cor 2-2020: 1-15, ISBN 978-1-5044-7055-1
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2020,
Caramazza L, De Angelis A, Remondini D, Castellani G, Liberti M, Apollonio F, Zironi I
2020 42nd Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Montreal, QC, Canada. IEEE: 2520-2523; ISBN 978-1-7281-1991-5
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2020,
Modenese A, Gobba F
2020 IEEE International Conference on Environment and Electrical Engineering and 2020 IEEE Industrial and Commercial Power Systems Europe (EEEIC / I&CPS Europe), Madrid, Spain. IEEE: 1-6; ISBN 978-1-7281-7456-3
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2020,
Gerke M, de Ridder M, Mehnert C, Vogel E, Hoffmann M, Kurz T
Landesanstalt für Umwelt Baden-Württemberg (LUBW), Bayerisches Landesamt für Umwelt (LfU),
4. aktualisierte Auflage: 1-140
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2019,
Gärtner R, Hilkersberger M, Stadler W, Niemesheim J, Speicher J
2019 41st Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), Riverside, CA, USA. IEEE: 1-10; ISBN 978-1-7281-2890-0
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2019 IEEE Aerospace Conference, Big Sky, MT, USA. IEEE: 1-6; ISBN 978-1-5386-6855-9
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Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50527-2-2 VDE 0848-527-2-2:2019-11
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Deutsche Gesetzliche Unfallversicherung (DGUV),
IFA Report, 1/2019: 1-211, ISBN 978-3-86423-237-4
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2019,
SSM’s Scientific Council on Electromagnetic Fields
Swedish Radiation Safety Authority (SSM),
Report number: 2019:08: 1-104
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2019,
Bodemann R, Finke J, von Freeden J, Gritsch T, Heinrich H, Hoffmann M, Jeschke P, Joosten S, Krischek R, Reidenbach HD, Schiessl K, Schreiber M, Schühle E, Storch D, Stunder D
Fachverband für Strahlenschutz e. V. (FS),
FS-2019-180-AKNIR: 1-111
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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),
IEEE Std C95.1-2019: 1-312, ISBN 978-1-5044-5548-0
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2019,
Kainz A, Steiner H, Hortschitz W, Schalko J, Jachimowicz A, Keplinger F
2019 20th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems & Eurosensors XXXIII (TRANSDUCERS & EUROSENSORS XXXIII), Berlin, Germany. IEEE: 2114-2117; ISBN 978-1-5386-8105-3
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2019,
Kasas-Lazetic K, Mijatovic G, Herceg D, Djuric N, Prsa M
2019 8th International Conference on Modern Power Systems (MPS), Cluj Napoca, Romania. IEEE: 1-4; ISBN 978-1-7281-0751-6
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Bundesamt für Strahlenschutz (BfS),
1-90
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2018,
Chen X, Liu HC, Gong HT, Wang HH, Zhang JH
2018 International Conference on Power System Technology (POWERCON), Guangzhou, China. IEEE: 1-5; ISBN 978-1-5386-6462-9
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2018,
Hutchison ZL, Sigray P, He H, Gill AB, King J, Gibson C
Bureau of Ocean Energy Management (U.S. Department of the Interior) (BOEM),
OCS Study BOEM 2018-003: 1-254
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2018,
Cieslar G, Sowa P, Sieron K, Sieron A
2018 Baltic URSI Symposium (URSI), Poznan, Poland. IEEE: 5-6; ISBN 978-1-5386-1360-3
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2018,
Zhu T, Wang S, Zhang N, Yan Y, Guo Z, Wang S, Wang S
2018 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Application (ICHVE), Athens, Greece. IEEE: 1-4; ISBN 978-1-5386-5087-5
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2018,
Malkemper EP, Tscheulin T, Vanbergen AJ, Vian A, Balian E, Goudeseune L
1-28
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Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50527-2-1 VDE 0848-527-2-1:2017-12
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Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50527-1 VDE 0848-527-1:2017-12
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2017,
Zhou J, Legenzoff Z, Yan X, Yang S, Xiang S, Shinde S, Lee J, Pommerenke D
2017 39th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), Tucson, AZ, USA. IEEE: 1-7; ISBN 978-1-5090-6499-1
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2017 Nineteenth International Middle East Power Systems Conference (MEPCON), Cairo, Egypt. IEEE: 1276-1280; ISBN 978-1-5386-0991-0