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キーワード: Frequenz, frequency, 頻度、周波数

• 2014, Wilson JW, Haines J, Sienkiewicz Z, Dubrova YE
  [詳細] [マウスでの突然変異誘発に対する超低周波磁界の影響] [med./bio.]
  Mutation Research - Fundamental and Molecular Mechanism of Mutagenesis 760: 22-26
• 2014, Tada S, Natsuya T, Tsukamoto A
  [一様な交流電界内の細胞の誘電的凝集の動力学] [tech./dosim.]
  Biorheology 51 (6): 381-397
• 2014, Androjna C, Fort B, Zborowski M, Midura RJ
  [骨粗鬆症による骨折の動物モデルにおける治癒仮骨の生体力学的特性をパルス化電磁界治療は増強する] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 35 (6): 396-405
• 2014, Abdellaouy HE, Pelov A, Toutain L, Bernard D
  [電磁放射に配慮したルーティングアルゴリズム] [tech./dosim.]
  2014 IEEE 11th Consumer Communications and Networking Conference (CCNC), Las Vegas, NV, USA. IEEE: pp. 107-114; ISBN 978-1-4799-2356-4
• 2014, Skiljo M, Blazevic Z
  [人体と無線電力伝送システムの間の相互作用] [tech./dosim.]
  2014 22nd International Conference on Software, Telecommunications and Computer Networks (SoftCOM), Split, Croatia. IEEE: p. 14920798; ISBN 978-953-290-052-1
• 2014, Kitano Y, Omori H, Morizane T, Kimura N, Nakaoka M
  [渦電流と磁界パスによる人体ばく露を考慮した無線EV充電器からの磁界の新しい遮蔽方法] [tech./dosim.]
  2014 International Power Electronics and Application Conference and Exposition, Shanghai, China. IEEE: pp. 778-781; ISBN 978-1-4799-6767-4
• 2014, Aravind KA, Krishna B, Devendranath D, Jha IS, Bhowmick BND, Rao SBR, Suresh Kumar BNVRC
  [400kVの送電線および400kV変電所の超低周波の電界および磁界強度] [tech./dosim.]
  2014 IEEE PES T&D Conference and Exposition, Chicago, IL, USA. IEEE: pp. 373-377; ISBN 978-1-4799-3657-1
• 2014, Ruddle AR, Low L
  [ハイブリッド車および電気自動車の駆動電流による磁界のばく露代表値　II：参考レベルから算出された安全係数] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Gothenburg, Sweden. IEEE: pp. 354-359; ISBN 978-1-4799-3226-9
• 2014, Ruddle AR, Low L
  [ハイブリッド車および電気自動車の駆動電流による磁界のばく露代表値　I：座席の人での基本制限のシミュレーション] [tech./dosim.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Gothenburg, Sweden. IEEE: pp. 348-353; ISBN 978-1-4799-3226-9
• 2014, Gapeyev AB, Aripovsky AV, Kulagina TP
  [X線による傷害下での低強度の超低周波電磁放射の修飾作用] [foreign-language]
  [2014 24th International Crimean Conference Microwave & Telecommunication Technology], Sevastopol, Ukraine. IEEE: pp. 1075-1076; ISBN 978-966-3-35412-5