EMF-Portal | 文献検索結果

2015, Huss A, van Eijsden M, Guxens M, Beekhuizen J, van Strien R, Kromhout H, Vrijkotte T, Vermeulen R

[詳細] [7歳児の環境無線周波電磁界への家庭内ばく露、携帯電話およびコードレス電話の使用と睡眠障害] [epidem.]

PLoS One 10 (10): e0139869

2015, Thielens A, Vanveerdeghem P, Agneessens S, Van Torre P, Vermeeren G, Rogier H, Martens L, Joseph W

[分散型個人ばく露計を用いた全身平均比吸収率の推定] [tech./dosim.]

IEEE Antennas Wirel Propag Lett 14: 1534-1537

2015, Plets D, Joseph W, Vanhecke K, Martens L

[屋内無線ネットワークにおけるダウンリンクへの全身SARに対する設置の総費用の分析] [tech./dosim.]

2015 9th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP), Lisbon, Portugal. IEEE: pp. 1-5; ISBN 978-88-907018-5-6

2015, Joshi P, Agrawal M, Thors B, Colombi D, Kumar A, Tornevik C

[インドでの3G移動体通信ネットワークにおける無線基地局設備およびユーザ用装置からの電力レベル分布および現実的なRF EMFばく露評価へのインパクト] [tech./dosim.]

IEEE Access 3: 1051-1059

2015, Plets D, Joseph W, Vanhecke K, Vermeeren G, Wiart J, Aerts S, Varsier N, Martens L

[屋内無線ネットワークにおけるアップリンクとダウンリンクを総合した全身ばく露量の最小化] [tech./dosim.]

Biomed Res Int: 943415

2015, Aerts S, Plets D, Thielens A, Martens L, Joseph W

[列車内でのRF-EMFばく露に対するスモールセルの影響] [tech./dosim.]

Int J Environ Res Public Health 12 (3): 2639-2652

2015, Thielens A, Agneessens S, Verloock L, Tanghe E, Rogier H, Martens L, Joseph W

[無線周波個人ばく露計2台1組の生体装着状態でのキャリブレーションとデータ処理] [tech./dosim.]

Radiat Prot Dosimetry 163 (1): 58-69

2014, Koprivica M, Pertic M, Popovic M, Milinkovic J, Niksic S, Neskovic A

[ベオグラード都市部におけるGSM900MHzのダウンリンク帯域の電磁界強度の長期変動] [tech./dosim.]

2014 22nd Telecommunications Forum Telfor (TELFOR), Belgrade, Serbia. IEEE: pp. 9-12; ISBN 978-1-4799-6190-0

2014, Sidi HBA, Altman Z, Tall A

[不均質ネットワークにおけるEMF低減のための自己最適化メカニズム] [tech./dosim.]

2014 12th International Symposium on Modeling and Optimization in Mobile, Ad Hoc, and Wireless Networks (WiOpt), Hammamet, Tunisia. IEEE: pp. 341-348; ISBN 978-3-901882-63-0

2014, Plets D, Joseph W, Vanhecke K, Martens L

[屋内無線ネットワークの設計者におけるダウンリンクおよびアップリンク電界とSARの予測アルゴリズム] [tech./dosim.]

The 8th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP 2014), The Hague, Netherlands. IEEE: pp. 2457-2461; ISBN 978-88-907018-4-9