文献検索結果

11968件の論文が見つかりました。

キーワード: Zelle, cell, 細胞

• 2016, Koyama S, Narita E, Shimizu Y, Shiina T, Taki M, Shinohara N, Miyakoshi J
  [0.12 THz電磁界への24時間ばく露はHCE-T細胞の遺伝毒性、形態学的変化、または熱ショックタンパク質発現に影響を与えない] [med./bio.]
  Int J Environ Res Public Health 13 (8): E793-
• 2016, Harutyunyan H, Mkrtchyan V, Sukiasyan K, Sahakyan G, Poghosyan G, Soghomonyan A, Cherniavsky E, Bondarenko E, Shkumatov V
  [ラットの血液学的パラメータに対する静電界へのイン・ビボおよびイン・ビトロばく露の影響] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 37 (8): 513-526
• 2016, Su Q, Yang L
  [電力周波電磁界中におかれたヒト胎児強膜線維芽細胞の増殖活性およびコラーゲンI型およびマトリックスメタロプロテナーゼ-2の発現に対するプエラリンの影響（中国語）] [foreign-language]
  Zhonghua Lao Dong Wei Sheng Zhi Ye Bing Za Zhi 34 (6): 447-451
• 2016, Onger ME, Gocer H, Cirakli A, Buyukceran I, Kilic M, Kaplan S
  [詳細] [固定および非固定条件での骨治癒に対する電磁波の効果] [med./bio.]
  J Craniofac Surg 27 (6): 1606-1608
• 2016, Wu SX, Xu YQ, Di GQ, Jiang JH, Xin L, Wu TY
  [マウス肝細胞の抗酸化酵素活性に対する環境静電界の影響] [med./bio.]
  Genet Mol Res 15 (3): 8800-
• 2016, Moraveji M, Haghighipour N, Keshvari H, Nourizadeh Abbariki T, Shokrgozar MA, Amanzadeh A
  [詳細] [毛包真皮乳頭細胞でのMAP2およびネスチン遺伝子の発現に対する超低周波電磁界の影響] [med./bio.]
  Int J Artif Organs 39 (6): 294-299
• 2016, Tamrin SH, Majedi FS, Tondar M, Sanati-Nezhad A, Hasani-Sadrabadi MM
  [詳細] [総説：電磁界と幹細胞の運命：物理学が生物学に出会う時] [review]
  Rev Physiol Biochem Pharmacol 171: 63-97
• 2016, Cusick KD, Lin B, Malanoski AP, Strycharz-Glaven SM, Cockrell-Zugell A, Fitzgerald LA, Cramer JA, Barlow DE, Boyd TJ, Biffinger JC
  [誘電加熱を用いて培養された好極限性微生物の増殖および生理学に寄与する分子メカニズム] [med./bio.]
  Appl Environ Microbiol 82 (20): 6233-6246
• 2016, Williams CF, Lloyd D, Lees J, Pirog A, Geroni GM, Pastre J, Kriegel V, Porch A
  [深海がマイクロ波について教えること] [med./bio.]
  2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), San Francisco, CA, USA. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-5090-0699-1
• 2016, Matveyenko OA, Komnatnov ME, Busygina AV, Zharkova LP
  [マウス肝臓ミトコンドリアの働きに対するTEMセル内でのピコ秒パルスの影響に関する研究] [med./bio.]
  2016 17th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), Erlagol, Russia. IEEE: pp. 657-660; ISBN 978-1-5090-0787-5