In einer in China durchgeführten Querschnittstudie wurde der Zusammenhang zwischen der Exposition bei elektromagnetischen Feldern von Hochspannungsfreileitungen und dem neurologisch-bedingten Verhalten von Kindern untersucht.
Es wurden zwei Grundschulen in einem Vorort von Guangzhou ausgewählt, die ähnliche Luftqualität, Lärm-Belastung und Grünbereich aufwiesen. Bei der Schule A waren keine Hochspannungsfreileitungen im Umkreis von 4 km vorhanden, während die Schule B in einem Abstand von 94 m entfernt zu 500 kV-Hochspannungsfreileitungen lag. Es standen keine Fernseh-Sendeanlagen oder Mobilfunk-Basisstationen in der Nähe beider Schulen.
Das neurologisch-bedingte Verhalten der Kinder wurde mit den vier anerkannten computerbasierten Verhaltenstests Merkfähigkeits-Test (Visual Retention Test), visuelle Reaktionszeit-Test (Visual Simple Reaction Time ), Zahlen-Symbol-Test (Digit Symbol) und Zielgerichtetheit-Test (Pursuit Aiming Test) festgestellt.
| Gruppe | Charakteristik |
|---|---|
| Referenzgruppe 1 | Schüler der Schule A |
| Gruppe 2 | Schüler der Schule B |
| Typ | Wert |
|---|---|
| Gesamtzahl | 437 |
| Anzahl auswertbar | 427 |
Alle Messwerte waren niedriger als die Grenzwerte für elektrische Felder (4000 V/m) und Magnetfelder (0,4 µT) in der Öffentlichkeit in China. Der Median für die elektrische Feldstärke betrug 0,417 V/m (im Bereich von 0,016 V/m bis 2,919 V/m) für die Schule A und 1,34 V/m (im Bereich von 0,522 V/m bis 3,93 V/m) für die Schule B. Der Maximalwert betrug 0,072 µT für die Schule A und 0,36 µT für Schule B. Der Median für die magnetische Flussdichte lag bei 0,028 µT bei Schule A und 0,20 µT bei Schule B. Die Unterschiede in der elektrischen Feldstärke und der magnetischen Flussdichte zwischen den beiden Schulen waren statistisch signifikant.
Nach Berücksichtigung möglicher Confounder zeigten die Ergebnisse, dass Kinder, die eine Schule in der Nähe von 500 kV-Hochspannungsfreileitungen besuchten, eine statisch signifikant geringere Leistung in zwei der vier Tests zum neurologisch-bedingten Verhalten (Merkfähigkeit-Test und Zielgerichtetheit-Test) zeigten als Kinder, die eine nicht in der Nähe von Hochspannungsfreileitungen gelegene Schule besuchten.
Die Autoren schlussfolgerten, dass eine langzeitige schwache Exposition bei elektromagnetischen Feldern von Hochspannungsfreileitungen einen negativen Einfluss auf das neurologisch-bedingte Verhalten bei Kindern haben könnte. Jedoch werden weitere Studien benötigt, weil die Ergebnisse von nur zwei der vier Tests statische Signifikanz erreicht hatten und die Studie möglicherweise weitere Einschränkungen hat.
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