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キーワード: Cranium, Kranium, Schädel, skull, 頭蓋骨, 頭蓋

• 2005, Tredget J, Kirov G, Dunn E
  [詳細] [抑うつ患者への経頭蓋磁気刺激] [review]
  Nurs Stand 19 (37): 49-50
• 2005, Rektorova I, Megova S, Bares M, Rektor I
  [認知症を患わない脳血管疾患患者に見る反復経頭蓋磁気刺激後の認知機能：7名の患者によるパイロット研究] [med. app.]
  J Neurol Sci 229: 157-161
• 2005, Roda-Murillo O, Roda-Moreno JA, Pascual-Morenilla MT, Guirao-Pineyro M, Arrebola-Nacle F, Morente-Chiquero JA, Casanova-Llivina JA, Lopez-Soler M
  [詳細] [ニワトリ胚の種々のパラメータに対する低周波磁界の影響] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 24 (1): 55-62
• 2005, Granqvist P, Fredrikson M, Unge P, Hagenfeldt A, Valind S, Larhammar D, Larsson M
  [経頭蓋弱複素磁界の照射ではなく被暗示性により予測される霊気と神秘的経験] [med. app.]
  Neurosci Lett 379 (1): 1-6
• 2005, Rumi DO, Gattaz WF, Rigonatti SP, Rosa MA, Fregni F, Rosa MO, Mansur C, Myczkowski ML, Moreno RA, Marcolin MA
  [詳細] [経頭蓋磁気刺激は重度の抑うつにおけるアミトリプチリンの抗うつ効果を促進する：二重ブラインドプラセボ対照研究] [med. app.]
  Biol Psychiatry 57 (2): 162-166
• 2005, Poulet E, Brunelin J, Bediou B, Bation R, Forgeard L, Dalery J, d'Amato T, Saoud M
  [統合失調症の難治性聴覚性幻覚を急速に軽減する低速経頭蓋磁気刺激] [med. app.]
  Biol Psychiatry 57 (2): 188-191
• 2005, Larsson M, Larhammar D, Fredrikson M, Granqvist P
  [「経頭蓋弱磁界の照射ではなく被暗示性により予測される霊気と神秘的経験」（Granqvistほか）へのM.A. PersingerおよびS. A. Korenによる回答に対する返事] [comment]
  Neurosci Lett 380 (3): 348-350
• 2005, Persinger MA, Koren SA
  [「経頭蓋弱磁界の照射ではなく被暗示性により予測される霊気と神秘的経験」（Granqvistほか）への回答] [comment]
  Neurosci Lett 380 (3): 346-347
• 2005, Couturier JL
  [抑うつ治療における急速反復経頭蓋磁気刺激の有効性：体系的考察とメタ分析] [review]
  J Psychiatry Neurosci 30 (2): 83-90
• 2005, Schutter DJ, van Honk J
  [抑うつ治療における反復経頭蓋磁気刺激による代替脳部位のターゲッティングに関するフレームワーク] [med. app.]
  J Psychiatry Neurosci 30 (2): 91-97
• 2005, Frick U, Kharraz A, Hauser S, Wiegand R, Rehm J, Kovatsits U, Eichhammer P
  [詳細] [主観的な電磁過敏症被検者と一般人の対照群による単一経頭蓋磁気刺激の認知比較] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 26 (4): 287-298
• 2005, Jeong JH, Choi KB, Moon NJ, Park ES, Sohn UD
  [詳細] [ベンゾジアゼピン系は超低周波磁界ばく露により誘発されるラットの痛覚過敏に関与する] [med./bio.]
  Arch Pharm Res 28 (2): 238-242
• 2005, Grianti F, Greggio FB, Gambarara A, Bernabe C, Polverelli I
  [携帯電話によってヒト頭蓋骨内に生じる平均的電界の予測] [comment]
  Med Hypotheses 64 (5): 1064
• 2005, Carlezon Jr WA, Rohan ML, Mague SD, Meloni EG, Parsegian A, Cayetano K, Tomasiewicz HC, Rouse ED, Cohen BM, Renshaw PF
  [詳細] [ラットにおける低エネルギー磁界による頭蓋刺激の抗うつ様効果] [med./bio.]
  Biol Psychiatry 57 (6): 571-576
• 2005, Arai N, Okabe S, Furubayashi T, Terao Y, Yuasa K, Ugawa Y
  [ヒト運動皮質の短時間、単相および二相反復経頭蓋磁気刺激（rTMS）の比較] [med. app.]
  Clin Neurophysiol 116 (3): 605-613
• 2005, Bachmann M, Kalda J, Lass J, Tuulik V, Sakki M, Hinrikus H
  [詳細] [低レベル電磁界の影響の検知を目的とした脳電図の非線形解析] [med./bio.]
  Med Biol Eng Comput 43 (1): 142-149
• 2005, Lönn S, Ahlbom A, Hall P, Feychting M
  [詳細] [長期的な携帯電話使用と脳腫瘍のリスク] [epidem.]
  Am J Epidemiol 161 (6): 526-535
• 2005, Miklavcic D, Pucihar G, Pavlovec M, Ribaric S, Mali M, Macek-Lebar A, Petkovsek M, Nastran J, Kranjc S, Cemazar M, Sersa G
  [高周波数電気パルスがインビボの筋収縮と抗腫瘍作用に与える影響の臨床電気化学療法での利用可能性] [med./bio.]
  Bioelectrochemistry 65 (2): 121-128
• 2005, Stecker MM
  [運動経路の経頭蓋電気刺激：理論的分析] [tech./dosim.]
  Comput Biol Med 35 (2): 133-155
• 2005, Jandl M, Bittner R, Sack A, Weber B, Gunther T, Pieschl D, Kaschka WP, Maurer K
  [反復経頭蓋磁気刺激（rTMS）後の統合失調症患者の陰性症状と脳波の変化：非盲検パイロット研究] [med. app.]
  J Neural Transm 112 (7): 955-967
• 2004, Verdon CM, Saba G, Januel D
  [Transcranial magnetic stimulation in cognition and neuropsychology] [foreign-language]
  Encephale 30 (4): 363-368
• 2004, Baqain E, Haertsch P, Kennedy P
  [詳細] [遅発性の四肢麻痺および多発性脳神経機能障害を随伴した高電圧電撃傷後の完全な回復] [elec. inj.]
  Burns 30 (6): 603-605
• 2004, Carrera-Izquierdo E, Moran-Sanchez JC, Carrera-Izquierdo M, Jimenez-Corral C, Rodriguez-Recio FJ, Ocastegui-Candial JL
  [落雷に次ぐ頭蓋内出血：症例報告] [foreign-language]
  Rev Neurol 39 (6): 530-532
• 2004, Todt I, Seidl RO, Mutze S, Ernst A
  [人工中耳植え込み手術におけるMRI走査およびキヌタ骨固定] [dev./impl.]
  Otol Neurotol 25 (6): 969-972
• 2004, Katsnelson Y, Khokhlov A, Tsvetkov V, Bartoo G, Bartoo M
  [経頭蓋電気療法刺激を用いた一時的な疼痛緩和：無作為化二重ブラインド試験の結果] [med. app.]
  The 26th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, San Francisco, CA, USA. IEEE: pp. 4087-4090; ISBN 978-0-7803-8439-2