研究のタイプ: 医学/生物学の研究 (experimental study)

[無処置および化学的ストレスを与えたPC12細胞における50Hzの超低周波電磁界(ELF-EMF)ばく露の神経毒性の評価] med./bio.

Assessment of the neurotoxic potential of exposure to 50Hz extremely low frequency electromagnetic fields (ELF-EMF) in naive and chemically stressed PC12 cells.

掲載誌: Neurotoxicology 2014; 44: 358-364

この研究は、無処置および化学ストレスを与えたPC12細胞に対する50Hzの超低周波電磁界(ELF-EMF:最大1000μT)の急性ばく露(30分間)および亜慢性ばく露(48時間)の影響を調べた。化学ストレスを与えたPC12細胞では鉄および活性酸素種ROS)のレベルが高くなり、外界からの刺激の影響を受けやすくなっている。その結果、無処置PC12の急性ばく露細胞内カルシウムイオン動態は変化せず、亜慢性ばく露でも一貫した変化は見られず、ROS産生および膜の完全性も影響を受けなかった;化学ストレスを与えたPC12細胞では、急性および亜慢性ばく露のいずれにおいても、細胞内カルシウムイオン動態、ROS産生、膜の完全性に一貫した変化は生じなかった、報告している。

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研究目的(著者による)

To investigate the potential neurotoxic effects of acute (30 minutes) and sub-chronic (48 hours) exposure to extremely low frequency magnetic fields alone or in combination with chemical stress on PC-12 cells.

詳細情報

Cells were chemically stressed with 5 µM dexamethasone (a glucocorticoid, for 3-5 days), 100 µM L-DOPA (L-3,4-dihydroxyphenylalanine, for 24 hours), 10 µM FeSO4 (iron sulfate, for 24 hours) or left naive (without chemical stress) prior to magnetic field exposure.

影響評価項目

ばく露

ばく露 パラメータ
ばく露1: 50 Hz
ばく露時間: 30 minutes
acute exposure
ばく露2: 50 Hz
ばく露時間: 48 hours
sub-chronic exposure

ばく露1

主たる特性
周波数 50 Hz
タイプ
  • magnetic field
ばく露時間 30 minutes
Additional information acute exposure
ばく露装置
ばく露の発生源/構造
ばく露装置の詳細 copper coil fitted to the stage of the fluorescence microscope; exposure device consisted of double copper wired solenoid coils connected to a signal generator; copper coils consisted of one continuous copper conductor, ensuring equal current in different coil components
Sham exposure A sham exposure was conducted.
パラメータ
測定量 種別 Method Mass 備考
磁束密度 1 µT - 測定値 - -
磁束密度 10 µT - 測定値 - -
磁束密度 100 µT - 測定値 - -
磁束密度 1,000 µT - 測定値 - -

ばく露2

主たる特性
周波数 50 Hz
タイプ
  • magnetic field
ばく露時間 48 hours
Additional information sub-chronic exposure
ばく露装置
ばく露の発生源/構造
ばく露装置の詳細 copper coil fitted into an incubator; exposure device consisted of double copper wired solenoid coils connected to a signal generator; copper coils consisted of one continuous copper conductor, ensuring equal current in different coil components
Sham exposure A sham exposure was conducted.
パラメータ
測定量 種別 Method Mass 備考
磁束密度 1 µT - 測定値 - -
磁束密度 10 µT - 測定値 - -
磁束密度 100 µT - 測定値 - -
磁束密度 1,000 µT - 測定値 - -

Reference articles

  • Bouwens M et al. (2012): [低周波電磁界はヒト単球及び免疫細胞株における炎症性遺伝子及びタンパク質の応答を変化させない]
  • de Kleijn S et al. (2011): [超低周波電磁界ばく露はヒト末梢血単核細胞におけるToll様受容体シグナル伝達を変化させない]

ばく露を受けた生物:

方法 影響評価項目/測定パラメータ/方法

研究対象とした生物試料:
調査の時期:
  • ばく露前
  • ばく露中
  • ばく露後

研究の主なアウトカム(著者による)

No significant differences were observed between exposed (acute and sub-chronic) and sham exposed cells independent if cells were chemically stressed.
The results indicate that acute and sub-chronic exposure to extremely low frequency magnetic fields do not induce neurotoxic effects neither in naive nor in chemically stressed PC-12 cells.

研究の種別:

研究助成

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