研究のタイプ: 医学/生物学の研究 (experimental study)

[中枢神経系の選択された構造における酸化ストレスに対する低周波電磁界の影響] med./bio.

Effects of Low-Frequency Electromagnetic Field on Oxidative Stress in Selected Structures of the Central Nervous System.

掲載誌: Oxid Med Cell Longev 2018; 2018: 1427412

この研究は、選択されたラット中枢神経系(CNS)構造における酸化ストレスに対する、50 Hz、10 kV/mの電界への22時間/日、28日間のばく露の影響を調べた。雄のWistarラット20匹をばく露群と疑似ばく露群に二等分し、ばく露/疑似ばく露後に、選択された酸化ストレスのパラメータについて、前頭皮質海馬脳幹視床下部線条体及び小脳ホモジネートを評価した。その結果、CNS構造のマロンジアルデヒド平均レベル及び総酸化状態については、ばく露群と疑似ばく露群で有意差は認められなかったが、脳構造ホモジネート中の抗酸化酵素の活性は、前頭皮質でのカタラーゼグルタチオンペルオキシダーゼ、及び海馬でのグルタチオンリダクターゼを除いて低下した。前頭皮質を除いて、調査対象の脳構造の非酵素的抗酸化系に対する磁界ばく露の影響はなかった、と著者らは報告している。

影響評価項目

ばく露

ばく露 パラメータ
ばく露1: 50 Hz

ばく露1

主たる特性
周波数 50 Hz
タイプ
  • electric field
ばく露装置
ばく露の発生源/構造
  • electrode
Sham exposure A sham exposure was conducted.
パラメータ
測定量 種別 Method Mass 備考
電界強度 10 kV/m unspecified 指定なし - -

ばく露を受けた生物:

方法 影響評価項目/測定パラメータ/方法

研究対象とした生物試料:
研究対象とした臓器系:
調査の時期:
  • ばく露後

研究助成

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